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SIGMAKOKI/西格瑪光機反射率測量儀

SIGMAKOKI/西格瑪光機反射率測量儀
可實現微小區域和曲面的反射率測量。
可直接測量未經處理的透明薄板的反射率，并能幾乎不受底面反射的影響；可快速高精度測量曲面和平面的反射率。

  • 產品型號：SGRM-200N
  • 廠商性質：經銷商
  • 更新時間：2024-11-30
  • 訪  問  量：981
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產品詳情

SIGMAKOKI/西格瑪光機反射率測量儀

可實現微小區域和曲面的反射率測量。

可直接測量未經處理的透明薄板的反射率，并能幾乎不受底面反射的影響；可快速高精度測量曲面和平面的反射率。

采用了特殊結構的半透鏡，能高效地收集被測試樣的反射光，并高效地導入分光光度計，可快速地完成低反射率樣品的測量。
采用了特殊的光學結構，有效地避免了底面反射的影響，可直接測量未經處理的透明薄板的反射率。
(使用20倍物鏡時，可測最小透明薄板厚度可達0.3mm）
采用了特殊鹵素燈和*創的光學設計，其有效光量大，獲取數據快，重復精度高。
測量點小(典型值為φ50μm)，可直接測曲面，以及膜層的分布特性。
結構緊湊，體積小，不占空間。
可用Microsoft® Excel®文件格式保存測量數據。
可在同一窗口內，同時顯示多個樣品的測量結果(曲線)，
方便數據的對比分析。
采用峰值跟蹤技術，提高了反射率的重復測量精度
技術指標
型號SGRM-200N
測定波長范圍380 ? 1050nm
樣品側N.A0.22(使用10倍物鏡時)
0.44(使用20倍物鏡時)
測量光斑尺寸約φ25μm（使用10倍物鏡時）
樣品的曲率半徑-2mm～-∞,+2mm～∞
再現性精度±0.2％ (380 ? 450nm)
±0.02％ (451 ? 950nm)
±0.2％ (951 ? 1050nm)
顯示分辨率1nm
測量時間數秒（受選定的采樣時間影響）
外形尺寸(本體）270(W)×465(D)×615(H)mm (不含突出部）
工作溫度范圍18 ? 28℃
工作濕度范圍60%以下（無結露現象）


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